检测服务中心面向集成电路、电子元器件、半导体、PCBA、LED、汽车电子、新材料等，为客户提供包括无损分析、失效分析、物理性能测试、微纳分析、可靠性与寿命评估、工艺制程等在内的技术解决方案。
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型号：Tecnai G2 F20 S-Twin
厂家：美国FEI 公司 |
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| 主要用途 | 1.该电镜是一台功能强大的材料分析型电子显微镜，广泛应用于生物、医药、化工、金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域，可对材料的粒度、形貌、成分、内部结构和缺陷进行分析； | |
| 2.其配备的STEM/HAADF附件可以成和原子序数相关的像，和能谱仪结合还可以很方便的测量样品微区元素的线分布和面分布，对于高分辨像的解析非常有利 | ||
| 3.像素高达2K×2K的CCD可以及时将电子显微像转换成数字照片进行输出，方便了用户。 | ||
| 主要配置 | 1.Gatan 894 CCD（2K×2K） | 2.STEM/HAADF探测器 |
| 3.美国EDAX能谱仪 | 4.低剂量曝光 | |
| 5.单倾样品杆、双倾样品杆、低背景双倾样品杆 |
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| 性能指标 | 1.场发射电子枪 | 2.加速电压：20-200 kV连续调节 |
| 3.放大倍数：25-1,000,000 | 4.点分辨率：0.24nm | |
| 5.线分辨率：0.102nm； | 6.信息分辨率:≤0.14nm | |
| 7.STEM分辨率：0.20 nm | 8.STEM放大倍数:200-100,000,000 | |
| 9.EDS分辨率:优于136 eV，分辨元素范围B5-U92 | 10.样品倾角：±40° | |
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